新闻要点：

* 紧密协作，结合超过百年的晶圆上测试经验，带来器件表征和晶圆上测试的不断创新

* 创新有助于加速客户的产品上市

2016 年 6 月7 日，北京――是德科技公司（NYSE：KEYS）和 Cascade Microtech 公司（NASDAQ：CSCD）近日共同庆祝 25 年精诚合作，帮助客户应对最棘手的半导体研发挑战的历史。这一合作带来了重大的晶圆上设计和测试创新，帮助客户加速产品上市。

是德科技源自 1939 年由 Bill Hewlett 和 Dave Packard 创立的原惠普公司。Cascade Microtech 公司由 Eric Strid 和 Reed Gleason 于 1983 年创立。1990 年，两家公司开始联手打造产品路线图，实现了重大技术突破。凭借 100 多年的半导体测试经验，两家公司的联合创新也影响到了客户进行晶圆上研究和设计的方式。

Cascade Microtech 公司总裁兼首席执行官 Michael Burger 表示：“我们与是德科技长达数十年的合作，使得我们在解决客户难题方面具有独特的优势。通过在开发周期的早期合作，我们能够为客户提供真正创新的测试解决方案，提高测量精度，交付值得信赖的结果。”

Keysight-Cascade Microtech 客户解决方案具有以下特点：

*  1991：HP/Keysight 4155 半导体参数分析仪帮助客户进行低噪声和漏电流测量。客户反馈表明，需要将这些测量扩展到探针和晶圆基板。这促使 Cascade Microtech 公司开发了 MicroChamber^® 技术和防护卡盘，以便在探头和卡盘端子上进行 10 fA 以下的电流测量。客户由此第一次能够看到晶体管的真实漏电流。

*  1999：8510XF 网络分析仪系统支持首款宽带 110 GHz 同轴解决方案，为客户提供最佳的整体性能，充分满足毫米波应用中的设计和测试挑战。同轴宽带解决方案的引入，可以用一个宽带单次扫描解决方案完成器件测量任务，而过去同样的任务需要使用三套仪器和探头，还需要进行校准。新的解决方案不仅节省了客户的时间和金钱，同时还提供更全面、更准确的测量，测量范围延伸至探针。

*  2015：完整的晶圆级测量解决方案用于快速、准确的半导体晶圆上测量，通过有保障的系统配置、安装和支持，能节省测量时间，降低客户风险。客户得到保证――不会漏掉任何元器件。这个系统事先经过验证，能提供可靠的探针性能，确保更快获得第一手数据。

是德科技副总裁兼总经理 Gregg Peters表示：“在过去的 25 年中，客户能成功进行器件表征和晶圆上测量，我们两家公司团队合作的作用不可或缺。今天，我们既要庆祝过去的成功，也期待着在未来 25 年继续合作，帮助我们的客户更快将产品推向市场。”